Abgeschlossene Projekte
- Ätzen von Cu-Leiterbahnen im Nanometerbereich
- Untersuchung von feinem Si in Sägeslurries
- Messung der Änderung des Stress auf GaN-Schichten mittels MikroRaman
- Entwicklung von Dichtungen für Mikropumpen
- Untersuchung von PEG in Sägeslurries
- Entwicklung eines Verfahrens zur Entfernung von hoch implantierten
Lacken auf Siliziumscheiben. Hierzu werden bei uns geeignete Chemikalienzusammensetzungen
entwickelt. Der Einfluss von Licht wird untersucht
- Water based post etch residues removal: Ein neuartiges Verfahren
ist zu entwickeln, das es ermöglicht umweltschonend "Polymere" nach
dem Trockenätzen zu entfernen.
- Aufbringen von Konversionsschichten und Streuschichten auf OLEDs.
Hierzu soll ein von uns entwickelter Sprühbelacker für diesen Prozess
weiterentwickelt und getestet werden.
- Entwicklung eines Düsenarrays für die Gasphasenätzung: Eigenentwicklung
von Nanochem.
- Grundsätzliche Untersuchung der Nano-Korrosion von Cu-Leiterbahnen
nach Behandlung mit wässrigen Medien. Bei zukünftigen Strukturen
mit kleiner als 50 nm Breite bereiten geringste Korrosionen im nm-Bereich
große Probleme. Wir untersuchen mit geeigneter Spurenanalytik, welche
wässrigen Medien welche Art von Korrosion zeigen.
- Kupferbarrieren in VIAS und Kontaktlöchern. Testen des Wanderungsverhaltens
von Kupfer durch verschiedene Metallbarrieren ins Silizium.
- Ätzung von Ni-NiCr beschichteten Drucksensoren.
- Analyse von Post Etch Residues nach dem Aluminium Trockenätzen.
- Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen an Hyalozyten im Collagengerüst.
- Nasschemische Resistentfernung nach Ionenimplantation mit hoher
Dosis.
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